對航空插頭故障產(chǎn)品和正常產(chǎn)品進(jìn)行高溫試驗，對高溫冷卻后的樣品進(jìn)行絕緣試驗。結(jié)果表明，故障產(chǎn)品在航空插頭中含有足夠量的水。同時，水的存在和高溫會降低航空插頭的絕緣電阻。
    然后在航空插頭故障產(chǎn)品的拆卸實驗中，發(fā)現(xiàn)航空插頭剩余的內(nèi)部絕緣部件被淺藍(lán)色腐蝕，只有一層金屬薄膜。在航空插頭失敗之前和之后，拆卸密封膠的絕緣電阻測試結(jié)果表明，航空插頭的絕緣合格性在失敗后被拆卸，密封膠測試其絕緣電阻是正常的。
    所有金屬部件的航空插頭EDS測試結(jié)果表明，金屬條金屬部件表面鍍銀的銅鋅合金和其他金屬部件不含銅、鋅和銀。淺藍(lán)色腐蝕和遷移的銀膜是金屬與金屬接觸的組件。所有組件的絕緣和紅外分析結(jié)果表明，絕緣組件包括聚酯和硅膠，PVC(包裝膠)分別用于離子色譜分析包裝膠和正常包裝脫膠產(chǎn)品。結(jié)果表明，氯離子含量失敗的產(chǎn)品包裝膠是正常產(chǎn)品的1.8倍。氯離子在潮濕環(huán)境中的存在將大大加速金屬部件的腐蝕和離子導(dǎo)電路徑的形成。